分光共焦点変位計 SCIシリーズを発表｜33 kHzの非接触測定

SinceVisionは、精密な光学設計、独自アルゴリズム、長年の開発を組み合わせた分光共焦点変位計「SCIシリーズ」を発表しました。

材質への適応性と測定精度を備え、産業自動化、精密製造、科学研究などの測定に活用できます。

SCIシリーズの主な特長

1. 高速測定：高速CMOSとFPUTアルゴリズムにより、33 kHzのサンプリングに対応します。発表時の従来モデル比で3倍の速度と紹介されています。

2. 多様な表面への対応：高輝度光源と独自処理により、光沢金属、透明ガラス、粗面など、反射や吸収の異なる対象を測定できます。

3. 微小な形状を精密に測定：主な性能は次のとおりです。

直線性：±0.2 µm。

許容受光角度：±60°。

微小スポット：薄膜や電極の厚みなど、小さな領域の測定に対応。

4. 多軸同期：3軸エンコーダと連携し、XYZの複合動作に同期した測定を行えます。

5. 環境変化への対応：温度ドリフト0.15 µm/℃。保護構造を備えた光ファイバケーブルで、温度変化や複雑な配線に対応します。

精密測定の用途を広げる

SCIシリーズは、生産効率の改善と研究開発に向け、次の用途で測定情報を提供します。

a. 自動検査システム

b. 精密製造の高度化

c. 研究開発での精密評価

世界の精密測定需要に対応する製品として、SinceVisionはセンサ技術の開発を継続しています。

用途事例

各分野における主な測定例を紹介します。

1. ガラス基板の厚み・平面度・反り測定

2. 曲面ガラスの精密測定

3. 基板（PCB）の品質検査

4. 太陽電池パネルの隙間検出

5. 医薬用ガラス容器の肉厚測定

6. ガラスの平面度測定

7. 銅板の厚み測定

詳細な仕様は、SCIシリーズの製品情報をご覧ください。

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