カメラモジュールの高さ測定｜分光共焦点変位計 SCI01045
カメラモジュールの高さ測定｜分光共焦点変位計 SCI01045。高画素化と薄型化が進むスマートフォンでは、カメラレンズモジュールの高さを正確に管理する必要があります。微小な測定誤差も、画質やカメラ性能に影響する場合があります。
高画素化と薄型化が進むスマートフォンでは、カメラレンズモジュールの高さを正確に管理する必要があります。微小な測定誤差も、画質やカメラ性能に影響する場合があります。
レンズモジュールの高さ管理が重要な理由
モジュールにはガラス、樹脂、金属など、表面特性の異なる材料が使われます。曲面、段差、傾斜も多く、従来の測定器では高さ検査が難しい対象です。
分光共焦点変位計SCI01045は、非接触で高精度に測定します。分解能0.006 µm、直線性±0.2 µm、サンプリング周波数33 kHzを備え、さまざまな材料・形状に対応します。
スマートフォン用カメラモジュールの検査条件
測定対象
本用途の測定項目は、スマートフォン用カメラレンズモジュールの高さです。
検査の課題
透明レンズ、反射の強い金属、不規則な表面など、異なる材質と形状に対応する必要があります。
要求精度
要求される測定精度は2 µm以内です。カメラ性能と製品信頼性の管理に関わります。
SCI01045を使用するメリット
a. サブµmの高さ測定
直線性±0.2 µm、軸方向分解能0.006 µmにより微小な高さ差を検出します。特に薄型スマートフォンで厳しくなるモジュール高さの寸法管理を支援します。
b. 異なるレンズ材料への対応
独自の高感度アルゴリズムと高輝度光源により、幅広い材料を測定できます。
1. ガラスなどの高透過材料
2. 金属などの高反射面
3. つや消し樹脂などの低反射面・粗面
暗色、光沢、不均一な面などで不足しがちな受光信号に対応し、表面状態の異なる対象でも安定した繰返し測定を支援します。
c. 33 kHzで生産ラインをリアルタイム測定
33 kHzのサンプリングにより、高速搬送される部品の高さ変化をリアルタイム取得します。高周波の振動を捉える用途にも対応します。
検査の見逃しを抑え、スマートフォンの大量生産に必要な検査速度を支援します。
d. ±45°の許容角度で複雑な形状に対応
±45°の受光角度への対応により、曲面や段差を持つモジュールでも測定可能な範囲を広げます。
e. 自動化設備との接続
RS-232、Ethernet、アナログ・デジタル入出力を備え、既存の工場設備や検査システムに組み込めます。
カメラ製造の高さ測定に対応するSCI01045
SCI01045は、次の条件を必要とする測定に適しています。
1. サブµmのレンズ高さ測定
2. 33 kHzの高速リアルタイム検査
3. 異なる材質での安定した測定
4. 曲面・複雑形状を持つモジュールへの対応
各モジュールの寸法条件を確認し、組付け精度、製品の安定性、スマートフォンの品質向上に役立てられます。
カメラレンズモジュールの測定相談
製造工程の品質管理を改善する方法について、製品情報をご覧ください。SCI01045の実機デモや測定相談は、SinceVision Japanへお問い合わせください。
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